Blackwell瑕疵「百分之百輝達錯」　與台積電鬧嫌隙？黃仁勳批「假新聞」

記者曾奕語／綜合報導

輝達（NVIDIA）頂級AI晶片Blackwell先前傳出有設計缺陷，導致出貨進度受推遲，近期更有媒體報導，輝達和台積電為此事鬧得不愉快。對此，輝達執行長黃仁勳親自回應，坦承Blackwell確實有出現設計瑕疵，但他表示該瑕疵「百分之百是輝達的錯」，並強調在台積電的協助下，問題已經解決，兩方不合的傳聞是「假新聞」。

外媒《The Information》日前引述知情人士說法表示，輝達在發布最強AI晶片Blackwell後，開始和台積電相互指責。有輝達工程師在測試時發現，Blackwell架構的晶片在資料中心常見的高壓環境下會無法運作，當中有一派認為是輝達對Blackwell的設計有缺陷，另一派則認為是因為採用台積電CoWoS-L封裝技術，兩個不同類型的晶片封裝在一起，導致生產放緩。

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黃仁勳23日於丹麥行程中回應傳聞，證實Blackwell晶片在設計上確實存在瑕疵，雖然可以運作，但良率並不高，並坦言這瑕疵「百分之百是輝達的錯」。黃仁勳補充說明，為了推出可運作的 Blackwell 晶片，輝達從無到有設計了7種不同的晶片版本，且必須同時啟動量產。

黃仁勳強調在此過程中，台積電協助輝達擺脫良率難題，並且以令人難以置信的速度恢復Blackwell的生產製造。針對輝達與台積電因生產延遲而關係緊張的傳聞，黃仁勳直言是「假新聞」。

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